無線通訊產(chǎn)品生產(chǎn)廠商而言，產(chǎn)品質(zhì)量不過關(guān)，產(chǎn)品不能及時(shí)面市或迅速批量生產(chǎn)帶來的是產(chǎn)值降低為利潤(rùn)的流失．直接影響后續(xù)業(yè)務(wù)拓展和市場(chǎng)份額的占有，射頻測(cè)試工藝通常是手機(jī)等無線通評(píng)類設(shè)備產(chǎn)線牛為復(fù)雜．

影響大的流程通常也是產(chǎn)線的瓶頸。射頻測(cè)試站通常由測(cè)試分儀表、屏蔽箱、測(cè)試軟件等幾部分構(gòu)成。通常又可分為咬準(zhǔn)測(cè)試、綜合測(cè)試、天線測(cè)試等等幾類．

由于產(chǎn)能的要求二通常射須測(cè)試工藝由多個(gè)相司的測(cè)試站并行運(yùn)行，某個(gè)或某些測(cè)試工位的通過秦偏低。產(chǎn)出降低就會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)線瓶頸、生產(chǎn)成本劇增。而究其原因大致可分為二產(chǎn)品設(shè)計(jì)或物料原困、測(cè)試的問題二誤測(cè)問題二、射頻干擾等環(huán)境困素、測(cè)試的不確定問題。電磁干掬 EMI 是整個(gè)電子領(lǐng)域目前必須面臨和克服的一個(gè)句題二一般在無線通訊產(chǎn)品比如：手機(jī)、汽車防盜、無線網(wǎng)卡、無線路由器、無線耳機(jī)、藍(lán)牙耳機(jī)、WIFI、 wimax 、數(shù)據(jù)卡、對(duì)講機(jī)、 RFID 等等無線通訊類設(shè)備、口無線通訊類模塊等在進(jìn)行檢側(cè)、終測(cè)過程中都是通過使用射頻測(cè)試屏蔽箱WIFI RF 來改善測(cè)試環(huán)境的。